金融界2025年5月10日消息，国家知识产权局信息数据显示，聚好看科技股份有限公司申请一项名为“一种芯片缺陷检验测试方法及设备”的专利，公开号CN119936015A，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本申请涉及工业质检技术领域，提供一种芯片缺陷检测的新方法及设备，用于提高LED芯片缺陷检验测试的准确性和效率。该方法在多个光源下分别从不同视角采集局部晶圆图像，并对单视角对应的多光源图像进行拼接，进而基于多光源拼接图像进行两阶段的缺陷检验测试，由于不同类型的缺陷在不同光源下的明显程度不同，且局部晶圆图像相对于完整晶圆图像LED芯片的细节信息更加丰富，因此能够提高缺陷检验测试的准确性，同时，两阶段缺席检测中第一阶段通过对多光源拼接图像进行分类以实现单个芯片的粗检和定位，第二阶段基于第一阶段的粗检和定位结果对部分单个芯片图像进行缺陷检验测试，相对于对全部LED芯片的单个芯片图像均进行缺陷检验测试，有效提高了检测效率。
天眼查资料显示，聚好看科技股份有限公司，成立于2016年，位于青岛市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本12500万人民币。通过天眼查大数据分析，聚好看科技股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目21次，财产线条，此外企业还拥有行政许可13个。
